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Norm [AKTUELL]
NF C96-287-2:2023-05-12
NF EN IEC 63287-2:2023-05-12
Halbleiterbauelemente - Richtlinien für Zuverlässigkeitsqualifizierungspläne - Teil 2: Konzept des Einsatzprofils
- Englischer Titel
- Semiconductor devices - Guidelines for reliability qualification plans - Part 2: concept of mission profile
- Ausgabedatum
- 2023-05-12
- Originalsprachen
- Französisch
- Seiten
- 20
- Ausgabedatum
- 2023-05-12
- Originalsprachen
- Französisch
- Seiten
- 20
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