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Norm [AKTUELL]

NF C96-022-5:2024-01-26

NF EN IEC 60749-5:2024-01-26

Halbleiterbauelemente - Mechanische und klimatische Prüfverfahren - Teil 5: Lebensdauerprüfung bei konstanter Temperatur und Feuchte unter elektrischer Beanspruchung

Englischer Titel
Semiconductor devices - Mechanical and climatic test methods - Part 5: steady-state temperature humidity bias life test
Ausgabedatum
2024-01-26
Originalsprachen
Französisch
Seiten
13

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Normen-Ticker 1
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