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Norm [AKTUELL]

NF C96-022-37:2008-07-01

NF EN 60749-37:2008-07-01

Halbleiterbauelemente - Mechanische und klimatische Prüfverfahren - Teil 37: Prüfverfahren Fall der Leiterplatte unter Verwendung eines Beschleunigungs-Messgerätes

Englischer Titel
Semiconductor devices - Mechanical and climatic test methods - Part 37: board level drop test method using an accelerometer
Ausgabedatum
2008-07-01
Originalsprachen
Französisch
Seiten
25

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2008-07-01
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