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Norm [AKTUELL]

NF C96-022-33:2005-12-01

NF EN 60749-33:2005-12-01

Halbleiterbauelemente - Mechanische und klimatische Prüfverfahren - Teil 33: beschleunigte Verfahren für Feuchtebeständigkeit - Autoclave ohne elektrische Beanspruchung

Englischer Titel
Semiconductor devices - Mechanical and climatic test methods - Part 33: accelerated moisture resistance - unbiased autoclave
Ausgabedatum
2005-12-01
Originalsprachen
Englisch, Französisch
Seiten
12

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