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Norm [AKTUELL]

NF C96-022-28:2017-06-30

NF EN 60749-28:2017-06-30

Englischer Titel
Semiconductor devices - Mechanical and climatic test methods - Part 28: Electrostatic discharge (ESD) sensitivity testing - Charged device model (CDM) - device level
Ausgabedatum
2017-06-30
Originalsprachen
Französisch
Seiten
56

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Französisch
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