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Norm [AKTUELL]

NF C96-022-10:2022-06-10

NF EN IEC 60749-10:2022-06-10

Halbleiterbauelemente - Mechanische und klimatische Prüfverfahren - Teil 10: Mechanischer Schock - Bauelemente und Unterbaugruppe

Englischer Titel
Semiconductor devices - Mechanical and climatic test methods - Part 10: Mechanical shock - Device and subassembly
Ausgabedatum
2022-06-10
Originalsprachen
Französisch
Seiten
16

ab 90,10 EUR inkl. MwSt.

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