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Norm [AKTUELL]
NF C80-203:2010-11-01
NF EN 62417:2010-11-01
Halbleiterbauelemente - Prüfverfahren auf mobile Ionen für Feldeffekttransistoren mit Metall-Oxid-Halbleiter (MOSFET)
- Englischer Titel
- Semiconductor devices - Mobile ion tests for metal-oxide semiconductor field effect transistors (MOSFETs)
- Ausgabedatum
- 2010-11-01
- Originalsprachen
- Französisch
- Seiten
- 11
- Ausgabedatum
- 2010-11-01
- Originalsprachen
- Französisch
- Seiten
- 11
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