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Norm [AKTUELL]

ISO 5618-2:2024-04

Hochleistungskeramik - Prüfverfahren für GaN-Kristalloberflächendefekte - Verfahren zur Bestimmung der Lochzahldichte

Englischer Titel
Fine ceramics (advanced ceramics, advanced technical ceramics) - Test method for GaN crystal surface defects - Part 2: Method for determining etch pit density
Ausgabedatum
2024-04
Originalsprachen
Englisch
Seiten
25

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