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Norm [AKTUELL]

ISO 23729:2022-07

Chemische Oberflächenanalyse - Rasterkraftmikroskopie - Leitfaden für Wiederherstellungsverfahren von durch endliche Sondengröße geweiteten Rasterkraftmikroskopiebildern

Englischer Titel
Surface chemical analysis - Atomic force microscopy - Guideline for restoration procedure for atomic force microscopy images dilated by finite probe size
Ausgabedatum
2022-07
Originalsprachen
Englisch
Seiten
15

ab 106,30 EUR inkl. MwSt.

ab 99,35 EUR exkl. MwSt.

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2022-07
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Englisch
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15

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