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Norm [AKTUELL]

ISO 22278:2020-08

Hochleistungskeramik - Prüfmethode für die kristalline Qualität von Siliciumcarbid (SiC) -Einkristallen unter Verwendung von hochauflösender Röntgenbeugung XRD

Englischer Titel
Fine ceramics (advanced ceramics, advanced technical ceramics) - Test method for crystalline quality of single-crystal thin film (wafer) using XRD method with parallel X-ray beam
Ausgabedatum
2020-08
Originalsprachen
Englisch
Seiten
29

ab 166,60 EUR inkl. MwSt.

ab 155,70 EUR exkl. MwSt.

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2020-08
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Englisch
Seiten
29

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