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Norm [AKTUELL]

ISO 21222:2020-01

Chemische Oberflächenanalyse - Rastersondenmikroskopie - Verfahren zur Bestimmung von Elastizitätsmodulen konformer Materialien mit Rasterkraftmikroskopie und Zweipunkt-JKR-Verfahren

Englischer Titel
Surface chemical analysis - Scanning probe microscopy - Procedure for the determination of elastic moduli for compliant materials using atomic force microscope and the two-point JKR method
Ausgabedatum
2020-01
Originalsprachen
Englisch
Seiten
17

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ab 99,35 EUR exkl. MwSt.

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2020-01
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17

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