Damit wir unsere Webseiten nutzerfreundlicher gestalten und fortlaufend verbessern, verwenden wir Cookies. Wenn Sie die Webseiten weiter nutzen, stimmen Sie dadurch der Verwendung von Cookies zu. Weitere Informationen erhalten Sie in unseren Datenschutzhinweisen und unserer Cookie-Richtlinie.

Wir sind telefonisch für Sie erreichbar!

Montag bis Freitag von 08:00 bis 15:00 Uhr

DIN Media Kundenservice
Telefon +49 30 58885700-70

Norm [AKTUELL]

ISO 14701:2018-11

Chemische Oberflächenanalyse - Röntgenphotoelektronenspektroskopie - Messung der Siliziumoxiddicke

Englischer Titel
Surface chemical analysis - X-ray photoelectron spectroscopy - Measurement of silicon oxide thickness
Ausgabedatum
2018-11
Originalsprachen
Englisch
Seiten
17

ab 106,30 EUR inkl. MwSt.

ab 99,35 EUR exkl. MwSt.

Format- und Sprachoptionen

PDF-Download

  • 106,30 EUR

Versand (3-5 Werktage)

  • 120,50 EUR

Mit dem Normenticker beobachten

Diese Option ist erst nach dem Login möglich.
Einfach Abo: Jetzt Zeit und Geld sparen!

Dieses Dokument können Sie auch abonnieren – zusammen mit anderen wichtigen Normen Ihrer Branche. Das macht die Arbeit leichter und rechnet sich schon nach kurzer Zeit.

Sparschwein_data
Abo Vorteile
Sparschwein Vorteil 1_data

Wichtige Normen Ihrer Branche, regelmäßig aktualisiert

Sparschwein Vorteil 2_data

Viel günstiger als im Einzelkauf

Sparschwein Vorteil 3_data

Praktische Funktionen: Filter, Versionsvergleich und mehr

Ausgabedatum
2018-11
Originalsprachen
Englisch
Seiten
17

Produktinformationen auf dieser Seite:

Schnelle Zustellung per Download oder Versand

Sicherer Kauf mit Kreditkarte oder auf Rechnung

Jederzeit verschlüsselte Datenübertragung

Inhaltsverzeichnis
ICS
71.040.40
Ersatzvermerk

Dieses Dokument ersetzt ISO 14701:2011-08 .

Normen mitgestalten

Lade Empfehlungen...
Lade Empfehlungen...