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Norm [AKTUELL]

IEEE/ANSI N 42.31:2003

ANSI N 42.31:2003

Englischer Titel
American National Standard for Measurement Procedures for Resolution and Efficiency of Wide-Bandgap Semiconductor Detectors of Ionizing Radiation
Ausgabedatum
2003
Originalsprachen
Englisch
Seiten
40

ab 109,60 EUR inkl. MwSt.

ab 102,43 EUR exkl. MwSt.

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2003
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Englisch
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40

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