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IEC 60749-9:2017-03
Halbleiterbauelemente - Mechanische und klimatische Prüfverfahren - Teil 9: Beständigkeit der Kennzeichnung
- Englischer Titel
- Semiconductor devices - Mechanical and climatic test methods - Part 9: Permanence of marking
- Ausgabedatum
- 2017-03
- Originalsprachen
- Englisch
- Seiten
- 9
- Ausgabedatum
- 2017-03
- Originalsprachen
- Englisch
- Seiten
- 9
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