IEC 60749-6:2017-03

Halbleiterbauelemente - Mechanische und klimatische Prüfverfahren - Teil 6: Lagerung bei hoher Temperatur

Englischer Titel: Semiconductor devices - Mechanical and climatic test methods - Part 6: Storage at high temperature
Ausgabedatum: 2017-03
Originalsprachen: Englisch
Seiten: 8

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