IEC 60749-34:2010-10

Halbleiterbauelemente - Mechanische und klimatische Prüfverfahren - Teil 34: Lastwechselprüfung

Englischer Titel: Semiconductor devices - Mechanical and climatic test methods - Part 34: Power cycling
Ausgabedatum: 2010-10
Originalsprachen: Englisch, Französisch
Seiten: 21

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