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IEC 60749-32 Corrigendum 1:2003-08

Halbleiterbauelemente - Mechanische und klimatische Prüfverfahren - Teil 32: Entflammbarkeit von Bauelementen in Kunststoffgehäusen (Fremdentzündung)

Englischer Titel
Semiconductor devices - Mechanical and climatic test methods - Part 32: Flammability of plastic-encapsulated devices (externally induced)
Ausgabedatum
2003-08
Originalsprachen
Englisch, Französisch
Ausgabedatum
2003-08
Originalsprachen
Englisch, Französisch

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