IEC 60749-32 AMD 1:2010-07

Halbleiterbauelemente - Mechanische und klimatische Prüfverfahren - Teil 32: Entflammbarkeit von Bauelementen in Kunststoffgehäusen (Fremdentzündung)

Englischer Titel: Semiconductor devices - Mechanical and climatic test methods - Part 32: Flammability of plastic-encapsulated devices (externally induced)
Ausgabedatum: 2010-07
Originalsprachen: Englisch, Französisch
Seiten: 4

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