IEC 60749-31:2002-08

Halbleiterbauelemente - Mechanische und klimatische Prüfverfahren - Teil 31: Entflammbarkeit von Bauelementen in Kunststoffgehäusen (Selbstentzündung)

Englischer Titel: Semiconductor devices - Mechanical and climatic test methods - Part 31: Flammability of plastic-encapsulated devices (internally induced)
Ausgabedatum: 2002-08
Originalsprachen: Englisch, Französisch
Seiten: 9

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