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IEC 60749-26:2018-01

Halbleiterbauelemente - Mechanische und klimatische Prüfverfahren - Teil 26: Prüfung der Empfindlichkeit gegen elektrostatische Entladungen (ESD) - Human Body Model (HBM)

Englischer Titel
Semiconductor devices - Mechanical and climatic test methods - Part 26: Electrostatic discharge (ESD) sensitivity testing - Human body model (HBM)
Ausgabedatum
2018-01
Originalsprachen
Englisch, Französisch
Seiten
106
Ausgabedatum
2018-01
Originalsprachen
Englisch, Französisch
Seiten
106

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