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IEC 60749-25:2003-07

Halbleiterbauelemente - Mechanische und klimatische Prüfverfahren - Teil 25: Zyklische Temperaturwechsel

Englischer Titel
Semiconductor devices - Mechanical and climatic test methods - Part 25: Temperature cycling
Ausgabedatum
2003-07
Originalsprachen
Englisch, Französisch
Seiten
34
Ausgabedatum
2003-07
Originalsprachen
Englisch, Französisch
Seiten
34

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