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IEC 60749-25:2003-07
Halbleiterbauelemente - Mechanische und klimatische Prüfverfahren - Teil 25: Zyklische Temperaturwechsel
- Englischer Titel
- Semiconductor devices - Mechanical and climatic test methods - Part 25: Temperature cycling
- Ausgabedatum
- 2003-07
- Originalsprachen
- Englisch, Französisch
- Seiten
- 34
- Ausgabedatum
- 2003-07
- Originalsprachen
- Englisch, Französisch
- Seiten
- 34
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