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IEC 60749-17:2019-03
Halbleiterbauelemente - Mechanische und klimatische Prüfverfahren - Teil 17: Neutronenbestrahlung
- Englischer Titel
- Semiconductor devices - Mechanical and climatic test methods - Part 17: Neutron irradiation
- Ausgabedatum
- 2019-03
- Originalsprachen
- Englisch, Französisch
- Seiten
- 17
- Ausgabedatum
- 2019-03
- Originalsprachen
- Englisch, Französisch
- Seiten
- 17
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