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IEC 60747-5-8:2019-11

Einzelhalbbleiterbauelemente - Teil 5-8: Optoelektronische Bauelemente - Lichtemittierende Dioden - Prüfverfahren der optoelektronischen Leistungsfähigkeit von lichtemittierende Dioden

Englischer Titel
Semiconductor devices - Part 5-8: Optoelectronic devices - Light emitting diodes - Test method of optoelectronic efficiencies of light emitting diodes
Ausgabedatum
2019-11
Originalsprachen
Englisch, Französisch
Seiten
36
Ausgabedatum
2019-11
Originalsprachen
Englisch, Französisch
Seiten
36

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