IEC 60747-14-4:2011-01

Im Januar 2011 erschien die erste Ausgabe der in Englisch und Französisch vorliegenden Norm innerhalb der insgesamt 16 Normen beziehungsweise Normenreihen umfassenden Reihe IEC 60747 über "Halbleiterbauelemente". Sowohl das deutsche Arbeitsgremium DKE/UK 631.1 als auch das dänische und das US-amerikanische haben zwar den Schlussentwurf (FDIS) wegen erheblicher Mängel abgelehnt; dieser wurde dennoch am 24. Dezember 2010 durch eine 78 %ige Mehrheit der Mitgliedsländer verabschiedet und im Januar 2011 entsprechend den Regularien der IEC als Internationale Norm veröffentlicht. Die WG 1 des IEC/SC 47E hat die Norm IEC 60747-14-4 erarbeitet.

Die 97 Seiten umfassende Norm behandelt alle Arten von Halbleiter-Beschleunigungsaufnehmern, sowohl mit auf dem Chip integrierten als auch extern verbundenen Schaltkreisen:

• Ein- und mehrdimensionale Beschleunigungsaufnehmer mit in Form einer Matrix definierbaren Empfindlichkeiten
• AC-Beschleunigungsaufnehmer für Schwingungs-, Stoß- und Schwenkbewegungen
• DC-Beschleunigungsaufnehmer für Neigung, Geschwindigkeit und Versatz.

Nach den einleitenden Abschnitten 3 und 4 zur Terminologie, den Definitionen, Grenzwerten sowie Parametern befasst sich Abschnitt 5 mit den für die Praxis wichtigen Prüfmethoden und den auf nationale Standards rückführbaren Kalibrierverfahren zur Festlegung der Prüfbedingungen und der Eigenschaften, wobei im Einzelnen die folgenden Themen behandelt werden:

• Prüfparameter und zugehörige Messmethode
• Kalibriermethode in Bezug auf den Typ des Beschleunigungsaufnehmers
• Empfindlichkeiten, Temperaturabhängigkeit und zugehörige Fehlerbestimmung
• Statische und dynamische Linearität, Rauschen.

Der Abschnitt 6 enthält schließlich Angaben zur Bestimmung von Annahmekriterien und zu Umwelt- und Zuverlässigkeitsprüfungen unter Bezug auf die Normenreihen IEC 60749 und IEC 61000. Der mit etwa 40 Seiten umfangreiche Anhang A befasst sich mit den Grundlagen der Empfindlichkeits-Matrix ein- und mehrachsiger Beschleunigungsaufnehmer. Daran schließen sich die als Information vorgesehenen Anhänge B und C an mit Angaben zur Messung von Linearität beziehungsweise Spitzenempfindlichkeit. Am Ende wurde noch eine Bibliographie im Wesentlichen zu relevanten ISO-Normen angefügt. Zum Verständnis der vorliegenden Norm IEC 60747-14-4 ist die einleitende Norm IEC 60747-1:2006 "Halbleiterbauelemente - Teil 1: Allgemein" erforderlich.

Eine deutsche Übersetzung der Norm ist nicht vorgesehen.

Für diese Norm ist das nationale Arbeitsgremium DKE/UK 631.1 "Einzel-Halbleiterbauelemente" zuständig.