Integrierte Schaltungen - Messung der elektromagnetischen Störfestigkeit - Teil 2: Messung der Störfestigkeit bei Einstrahlungen - TEM-Zellen- und Breitband-TEM-Zellenverfahren (IEC 62132-2:2010)
Englischer Titel
Integrated circuits - Measurement of electromagnetic immunity - Part 2: Measurement of radiated immunity - TEM cell and wideband TEM cell method (IEC 62132-2:2010)
Ausgabedatum
2011-03
Originalsprachen
Englisch
Ausgabedatum
2011-03
Originalsprachen
Englisch
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