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Norm [AKTUELL]
EIA JESD 28-A:2001-12
- Englischer Titel
- Procedure for Measuring N-Channel MOSFET Hot-Carrier-Induced Degradation under DC Stress
- Ausgabedatum
- 2001-12
- Information
-
Diesen Artikel bestellen wir extra für Sie, daher kann die Lieferung 1-2 Wochen in Anspruch nehmen.
- Originalsprachen
- Englisch
- Seiten
- 20
- Ausgabedatum
- 2001-12
- Information
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- Originalsprachen
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