DIN ISO 15529:2010-11

Diese Norm legt die grundlegenden MTFs für abtastende Abbildungssysteme fest. Die zugehörigen Begriffe werden definiert und mehrere geeignete Verfahren zur Messung der MTF angegeben. Er gilt insbesondere für elektronische Abbildungssysteme wie digitale Stehbild- und Videokameras und abtastende Detektoren, die sie beinhalten. Ein sehr wichtiger Aspekt bei abtastenden Abbildungssystemen stellt das Übersprechen (en: Aliasing) dar, das mit derartigen Systemen fest verknüpft ist. Diese Norm definiert ein Maß für das Übersprechen. Die Bedeutung liegt darin, dass Ortsfrequenzen oberhalb der Nyquist-Frequenz im Endbild als niederfrequente Störungen auftreten. Dies führt im Endbild zu Artefakten, die als eine Art von Rauschen betrachtet werden können. Wie stark sich diese Art von Rauschen als störend auswirkt, hängt von den Eigenschaften des abzutastenden Bildes ab. Bilder, die sehr regelmäßige Strukturen oberhalb der Nyquist-Frequenz beinhalten (zum Beispiel Webtexturen in Bekleidungsstücken), führen beispielsweise zu stark sichtbaren Streifenmustern im Bild, typischerweise auch als Moirémuster bezeichnet. Diese Streifenmuster sind in den meisten Anwendungen inakzeptabel, wenn sie aufgrund eines hohen Kontrastes für den Betrachter sichtbar sind. Aber auch wenn keine regelmäßigen Objektstrukturen vorliegen, führt das Übersprechen (en: Aliasing) zu einem ortsfrequenzabhängigen Rauschen, das zu einer Bildverschlechterung beiträgt. Obwohl hier eine Reihe von MTF-Messverfahren beschrieben werden, ist es nicht das Ziel, andere Verfahren auszuschließen, die eine korrekte Messung der Parameter gewährleisten, sofern diese den in ISO 9334 und ISO 9335 beschriebenen allgemeinen Definitionen und Vorgaben an eine MTF-Messung genügen. Statt der Linienbildfunktion (LSF) sei insbesondere die Nutzung der Kantenbildfunktion als ein weiterer Ausgangspunkt zur Ermittlung der OTF/MTF von abbildenden Systemen genannt. Die Internationale Norm ISO 15529 wurde vom ISO/TC 172/SC 1 "Grundlegende Normen" erarbeitet, dessen Sekretariat vom DIN gehalten wird. Auf nationaler Ebene wird die Norm vom Arbeitsausschuss NA 027-01-02 AA "Grundnormen der Optik" im NAFuO betreut.