DIN EN ISO 16866:2023-01

Dieses Dokument legt ein Verfahren für die Messung der Schichtdicken der einzelnen Nickelschichten in galvanisch abgeschiedenen Mehrfach Nickelschichtsystemen sowie für die Messung der Potentialdifferenzen zwischen den einzelnen Nickelschichten in galvanisch abgeschiedenen Mehrfach Nickelschichtsystemen fest. Die Messung anderer Schichten oder Schichtsysteme als galvanisch abgeschiedene Mehrfach Nickelschicht-systeme gehören nicht zum Anwendungsbereich dieses Dokumentes. Dieses Dokument (EN ISO 16866:2022) wurde vom Technischen Komitee ISO/TC 107 "Metallic and other inorganic coatings" in Zusammenarbeit mit dem Technischen Komitee CEN/TC 262 "Metallische und andere anorganische Überzüge, einschließlich des Korrosionsschutzes und der Korrosionsprüfung von Metallen und Legierungen" erarbeitet, dessen Sekretariat von BSI (Vereinigtes Königreich) gehalten wird. Das zuständige deutsche Normungsgremium ist der Arbeitsausschuss NA 062-01-61 AA "Mess- und Prüfverfahren für Schichten und Schichtsysteme" im DIN-Normenausschuss Materialprüfung (NMP).