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Norm [ZURÜCKGEZOGEN]
DIN EN 60904-10:2010-10
VDE 0126-4-10:2010-10
Photovoltaische Einrichtungen - Teil 10: Messverfahren für die Linearität (IEC 60904-10:2009); Deutsche Fassung EN 60904-10:2010
- Englischer Titel
- Photovoltaic devices - Part 10: Methods of linearity measurement (IEC 60904-10:2009); German version EN 60904-10:2010
- Ausgabedatum
- 2010-10
- Originalsprachen
- Deutsch
- Seiten
- 17
- Ausgabedatum
- 2010-10
- Originalsprachen
- Deutsch
- Seiten
- 17
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Dieser Teil von IEC 60904 beschreibt Verfahren für die Bestimmung des Linearitätsgrades von Parametern beliebiger photovoltaischer (PV-)Einrichtungen in Bezug auf einen Prüfparameter. Er ist hauptsächlich für die Anwendung in Kalibrierlaboratorien, bei Herstellern von PV-Modulen und für Anlagenkonstrukteure bestimmt. Zuständig ist das K 373 "Photovoltaische Solarenergie-Systeme" der DKE Deutsche Kommission Elektrotechnik Elektronik Informationstechnik im DIN und VDE.
Dieses Dokument ersetzt DIN EN 60904-10:1998-11 .
Dokument wurde ersetzt durch DIN EN IEC 60904-10:2022-10; VDE 0126-4-10:2022-10 .
Gegenüber DIN EN 60904-10:1998-11 wurden folgende Änderungen vorgenommen: 1. Für die Isc-Linearität wurde ein Abschnitt für das Verfahren mit zwei Lichtquellen ergänzt. 2. Als Maß für die Linearität wurde ein Wechsel von der Standardabweichung zur prozentualen Abweichung von der Linearität vorgenommen. Dies war notwendig, weil eine nichtlineare Einrichtung eine kleine Standardabweichung haben kann und die prozentuale Abweichung die quantitative Angabe für den Parameter von Interesse darstellt. 3. Verschiedene Schönheits- und Interpunktionsänderungen. Das Multiplikationszeichen in den Gleichungen ist jetzt einheitlich. 4. Der Abschnitt über die Nichtlinearität der spektralen Empfindlichkeit wurde herausgenommen, weil nicht bei jeder PV-Prüf-/Kalibriergruppe gebraucht wird. Bei der Prüfung realer PV-Einrichtungen ist es kompliziert, diesen Fehler beim Korrekturfaktor der spektralen Empfindlichkeit signifikant zu machen, während die Isc-Linearität noch vorhanden ist. Die Messung der Empfindlichkeit über den gesamten Empfindlichkeitsbereich bedeutet, dass die Einrichtung bei der Temperaturlinearität nahe der Enden des Bandes versagt. 5. Ergänzt wurde ein Abschnitt über die Abhängigkeit der Kurzschlusslinearität von der Temperatur oder der Gesamtbestrahlungsstärke, deren Bestimmung aus Absolutmessungen der spektralen Empfindlichkeit möglich ist. Derartige Daten werden von der PTB üblicherweise in den Kalibrierscheinen für Primärreferenzzellen angegeben. 6. Ergänzt wurde ein Abschnitt für den Prüfbericht in Übereinstimung mit den Anforderungen nach ISO/IEC 17025. 7. Der Temperaturkoeffizient des Kurzschlussstromes ist oftmals sehr klein, so dass die Messfehler zu prozentualen Abweichungen führen können, die außerhalb des zulässigen Bereiches liegen. Deshalb wurde bei 1(c) der Text ergänzt "Wenn der Temperaturkoeffizient des Kurzschlussstromes kleiner als 0,1 %/K ist, dann darf die Einrichtung hinsichtlich dieses Parameters als linear betrachtet werden."