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Norm [ZURÜCKGEZOGEN]

DIN EN 60749-23:2004-10

Halbleiterbauelemente - Mechanische und klimatische Prüfverfahren - Teil 23: Lebensdauer bei hoher Temperatur (IEC 60749-23:2004); Deutsche Fassung EN 60749-23:2004

Englischer Titel
Semiconductor devices - Mechanical and climatic test methods - Part 23: High temperature operating life (IEC 60749-23:2004); German version EN 60749-23:2004
Ausgabedatum
2004-10
Originalsprachen
Deutsch
Seiten
11

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ab 59,63 EUR exkl. MwSt.

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Ausgabedatum
2004-10
Originalsprachen
Deutsch
Seiten
11

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