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Norm [ZURÜCKGEZOGEN]

DIN EN 60749-17:2003-09

Halbleiterbauelemente - Mechanische und klimatische Prüfverfahren - Teil 17: Neutronenbestrahlung (IEC 60749-17:2003); Deutsche Fassung EN 60749-17:2003

Englischer Titel
Semiconductor devices - Mechanical and climatic test methods - Part 17: Neutron irradiation (IEC 60749-17:2003); German version EN 60749-17:2003
Ausgabedatum
2003-09
Originalsprachen
Deutsch
Seiten
7
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2003-09
Originalsprachen
Deutsch
Seiten
7
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DOI
https://dx.doi.org/10.31030/9509576

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ICS
31.080.01
DOI
https://dx.doi.org/10.31030/9509576
Ersatzvermerk

Dokument wurde ersetzt durch DIN EN IEC 60749-17:2019-11; VDE 0884-749-17:2019-11 .

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