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Norm [AKTUELL]

DIN EN 4533-002:2018-04

Luft- und Raumfahrt - Faseroptische Systemtechnik - Handbuch - Teil 002: Prüfung und Messung; Deutsche und Englische Fassung EN 4533-002:2017

Englischer Titel
Aerospace series - Fibre optic systems - Handbook - Part 002: Test and measurement; German and English version EN 4533-002:2017
Ausgabedatum
2018-04
Originalsprachen
Deutsch, Englisch
Seiten
104

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Ausgabedatum
2018-04
Originalsprachen
Deutsch, Englisch
Seiten
104
DOI
https://dx.doi.org/10.31030/2799259

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Einführungsbeitrag

Die Normenreihe DIN EN 4533 beinhaltet ein Handbuch für die Anwendung faseroptischer Systemtechnik in der Luft- und Raumfahrt. Die Norm DIN EN 4533-002 beschreibt die Anforderungen, um eine genaue Messung von Lichtwellenleiterverbindungen ab dem Beginn der Nutzungsdauer und während des Lebenszyklus des Systems ab dessen Installation und während des Betriebs zu ermöglichen. Sie erläutert Probleme in Bezug auf die Messung optischer Verbindungen und bietet Techniken zur Behandlung dieser Probleme. Dieses Dokument erläutert die Messung von Schlüsselparametern in Bezug auf die passive Schicht (das heißt Lichttransmission durch einen optischen Kabelbaum). Es behandelt keine Systemprüfungen, beispielsweise Bitfehlerraten. Gegenüber der Vorgängerausgabe DIN EN 4533-002:2008-02 wurden folgende Änderungen vorgenommen: a) Die Norm wurde grundlegend überarbeitet, die Struktur geändert; b) Abschnitt 3 stellt eine Übersicht über die verschiedenen Faserarten zur Verfügung; c) Abschnitt 4 behandelt die Schlüsselparameter bei Prüfung und Messung; d) Abschnitt 5 beinhaltet Prüfung und Messung in Einmodensystemen, Abschnitt 6 in Mehrmodensystemen; e) Abschnitt 7 beschäftigt sich mit dem Prüfen der Netzwerkpfade mittels Reflektometern in den beiden Arten OTDR und OFDR ("Optical Time Domain Reflectometer" und "Optical Frequency Domain Reflectometer") und dem Footprinting; f) Abschnitt 8 beinhaltet Faktoren, die neben den Einkopplungsbedingungen wichtig für präzise und wiederholbare Messungen in Lichtwellenleitersystemen sind; g) Abschnitt 9 beschreibt allgemeine Abläufe zur Messung der Einfügungsdämpfung und des Rückstreuverlustes; h) Abschnitt 10 enthält Empfehlungen für aufzuzeichnende Parameter bei vorgenommenen Messungen; i) Abschnitt 11 bietet einen Überblick über Techniken der Systementwicklung. Die Normenreihe EN 4533 wird von ASD-STAN, Fachbereich Elektrotechnik, unter Mitwirkung deutscher Experten des DIN-Normenausschusses Luft- und Raumfahrt (NL) erarbeitet. Der Verband der Europäischen Luft-, Raumfahrt- und Verteidigungsindustrie Normung (ASD-STAN) ist vom Europäischen Komitee für Normung (CEN) für zuständig erklärt worden, Europäische Normen (EN) für das Gebiet der Luft- und Raumfahrt auszuarbeiten. Durch die Vereinbarung vom 3. Oktober 1986 wurde ASD Assoziierte Organisation (ASB) des CEN. Das zuständige deutsche Normungsgremium ist der Arbeitsausschuss NA 131-04-10 "LWL und LWL-Komponenten" im DIN-Normenausschuss Luft- und Raumfahrt (NL).

Inhaltsverzeichnis
ICS
49.060
DOI
https://dx.doi.org/10.31030/2799259
Ersatzvermerk

Dieses Dokument ersetzt DIN EN 4533-002:2008-02 .

Änderungsvermerk

Gegenüber DIN EN 4533-002:2008-02 wurden folgende Änderungen vorgenommen: a) die Norm wurde grundlegend überarbeitet, die Struktur geändert; b) Abschnitt 3 stellt eine Übersicht über die verschiedenen Faserarten zur Verfügung; c) Abschnitt 4 behandelt die Schlüsselparameter bei Prüfung und Messung; d) Abschnitt 5 beinhaltet Prüfung und Messung in Einmodensystemen, Abschnitt 6 in Mehrmodensystemen; e) Abschnitt 7 beschäftigt sich mit dem Prüfen der Netzwerkpfade mittels Reflektometern in den beiden Arten OTDR und OFDR ("Optical Time Domain Reflectometer" und "Optical Frequency Domain Reflectometer") und dem Footprinting; f) Abschnitt 8 beinhaltet Faktoren, die neben den Einkopplungsbedingungen wichtig für präzise und wiederholbare Messungen in Lichtwellenleitersystemen sind; g) Abschnitt 9 beschreibt allgemeine Abläufe zur Messung der Einfügungsdämpfung und des Rückstreuverlustes; h) Abschnitt 10 enthält Empfehlungen für aufzuzeichnende Parameter bei vorgenommenen Messungen, i) Abschnitt 11 bietet einen Überblick über Techniken der Systementwicklung.

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