BS EN IEC 60749-28:2022-09-06

Halbleiterbauelemente. Mechanische und klimatische Prüfverfahren Prüfung der Empfindlichkeit gegen elektrostatische Entladungen (ESD). Charged Device Model (CDM). Device Level

Englischer Titel: Semiconductor devices. Mechanical and climatic test methods. Electrostatic discharge (ESD) sensitivity testing. Charged device model (CDM). device level
Ausgabedatum: 2022-09-06
Originalsprachen: Englisch
Seiten: 54

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