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Norm [AKTUELL]
ASTM E 2382:2004
- Englischer Titel
- Standard Guide to Scanner and Tip Related Artifacts in Scanning Tunneling Microscopy and Atomic Force Microscopy
- Ausgabedatum
- 2004 reapproved: 2020
- Originalsprachen
- Englisch
- Seiten
- 20
- Ausgabedatum
- 2004 reapproved: 2020
- Originalsprachen
- Englisch
- Seiten
- 20
- DOI
- https://dx.doi.org/10.1520/E2382-04R12
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ICS
17.040.20
DOI
https://dx.doi.org/10.1520/E2382-04R12
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