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Norm-Entwurf

OVE EN IEC 63284:2021-04-01 - Entwurf

Englischer Titel
Semiconductor devices - Reliability test method by inductive load switching for gallium nitride transistors (IEC 47/2681/CDV) (english version)
Ausgabedatum
2021-04-01
Originalsprachen
Englisch
Seiten
14

ab 18,00 EUR inkl. MwSt.

ab 16,82 EUR exkl. MwSt.

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Ausgabedatum
2021-04-01
Originalsprachen
Englisch
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14

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