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Norm [AKTUELL]

SN EN 62373:2006-08

Stabilitätsprüfung unter Temperatur-Spannungs-Beanspruchung für Feldeffekttransistoren mit Metalloxid-Halbleiter (MOSFET)

Englischer Titel
Bias-temperature stability test for metal-oxide, semiconductor, field-effect transistors (MOSFET)
Ausgabedatum
2006-08
Originalsprachen
Deutsch
Seiten
12

ab 21,20 EUR inkl. MwSt.

ab 19,81 EUR exkl. MwSt.

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