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Norm [AKTUELL]

NF C96-051:2006-10-01

NF EN 62373:2006-10-01

Stabilitätsprüfung unter Temperatur-Spannungs-Beanspruchung für Feldeffekttransistoren mit Metalloxid-Halbleiter (MOSFET)

Englischer Titel
Bias-temperature stability test for metal-oxide, semiconductor, field-effect transistors (MOSFET)
Ausgabedatum
2006-10-01
Originalsprachen
Französisch
Seiten
15

ab 90,10 EUR inkl. MwSt.

ab 84,21 EUR exkl. MwSt.

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2006-10-01
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Französisch
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15

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