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Norm [AKTUELL]

ISO 22415:2019-05

Chemische Oberflächenanalyse - Sekundärionen-Massenspektrometrie - Verfahren zur Bestimmung der Volumenausbeute bei der Tiefenprofilierung von organischen Materialien mit Argon-Cluster-Sputtern

Englischer Titel
Surface chemical analysis - Secondary ion mass spectrometry - Method for determining yield volume in argon cluster sputter depth profiling of organic materials
Ausgabedatum
2019-05
Originalsprachen
Englisch
Seiten
30

ab 166,60 EUR inkl. MwSt.

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Ausgabedatum
2019-05
Originalsprachen
Englisch
Seiten
30

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