IEC 60749-33:2005-11

Halbleiterbauelemente - Mechanische und klimatische Prüfverfahren - Teil 33: Beschleunigte Verfahren für Feuchtebeständigkeit - Autoclave ohne elektrische Beanspruchung

Englischer Titel: Semiconductor devices - Mechanical and climatic test methods - Part 33: Accelerated moisture resistance - Unbiased autoclave
Ausgabedatum: 2005-11
Originalsprachen: Englisch, Französisch
Seiten: 26

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