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IEC 60749-2:2002-04

Halbleiterbauelemente - Mechanische und klimatische Prüfverfahren - Teil 2: Niedriger Luftdruck

Englischer Titel
Semiconductor devices - Mechanical and climatic test methods - Part 2: Low air pressure
Ausgabedatum
2002-04
Originalsprachen
Englisch, Französisch
Seiten
11
Ausgabedatum
2002-04
Originalsprachen
Englisch, Französisch
Seiten
11

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Dieser Artikel wurde geändert durch: IEC 60749-2 Corrigendum 1:2003-08

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