IEC 60749-2:2002-04

Halbleiterbauelemente - Mechanische und klimatische Prüfverfahren - Teil 2: Niedriger Luftdruck

Englischer Titel: Semiconductor devices - Mechanical and climatic test methods - Part 2: Low air pressure
Ausgabedatum: 2002-04
Originalsprachen: Englisch, Französisch
Seiten: 11

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