Montag bis Freitag von 08:00 bis 15:00 Uhr
Norm [AKTUELL]
DIN EN ISO 4499-2:2020-11
Hartmetalle - Metallographische Bestimmung der Mikrostruktur - Teil 2: Messung der WC-Korngröße (ISO 4499-2:2020); Deutsche Fassung EN ISO 4499-2:2020
- Englischer Titel
- Hardmetals - Metallographic determination of microstructure - Part 2: Measurement of WC grain size (ISO 4499-2:2020); German version EN ISO 4499-2:2020
- Ausgabedatum
- 2020-11
- Originalsprachen
- Deutsch
- Seiten
- 26
- Ausgabedatum
- 2020-11
- Originalsprachen
- Deutsch
- Seiten
- 26
- DOI
- https://dx.doi.org/10.31030/3195178
Produktinformationen auf dieser Seite:
Schnelle Zustellung per Download oder Versand
Jederzeit verschlüsselte Datenübertragung
Dieses Dokument gibt Leitlinien für die Messung der Hartmetallkorngröße mittels metallographischer Verfahren ausschließlich unter Anwendung der Licht- oder Elektronenmikroskopie an. Dieser ist für gesinterte WC/Co-Hartmetalle (auch als Sinterhartmetalle oder Cermets bezeichnet) vorgesehen, die hauptsächlich WC (de: Wolframcarbid, en: tungsten carbide) als harte Phase haben. Es ist ebenfalls für die Messung der Korngröße und deren Verteilung mit dem Linienschnittverfahren vorgesehen. Dieses Dokument wurde vom Technischen Komitee ISO/TC 119/SC 4 "Sampling and testing methods for hardmetals" erarbeitet, dessen Sekretariat von DIN (Deutschland) gehalten wird. Das zuständige nationale Normungsgremium ist der Arbeitsausschuss NA 145-01-04 AA "Probenahme und Prüfverfahren für Hartmetalle" im DIN-Normenausschuss Werkstofftechnologie (NWT).
Dieses Dokument ersetzt DIN EN ISO 4499-2:2010-10 .
Gegenüber DIN EN ISO 4499-2:2010-10 wurden folgende Änderungen vorgenommen: a) ehemals 3.1 wurde entfernt; b) 3.2 wurde erweitert; c) Abschnitt 5 "Elektronenrückstreudiffraktometrie (EBSD)" eingefügt; d) Liste in 7.2.1 wurde überarbeitet; e) 7.3.3, Tabelle 1, wurde die Zeile "Elektronenrückstreudiffraktometrie" hinzugefügt und in der Zeile "Rasterelektronenmikroskop" wurde der Wert für die "Kleinste sichtbare Schnittlinienlänge" korrigiert von 200 nm auf 400 nm; f) redaktionelle Überarbeitung.