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Norm [AKTUELL]
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Die Normenreihe DIN EN 60749 enthält eine Vielzahl von unterschiedlichen Prüfverfahren. Bei kunststoffverkappten oberflächenmontierbaren Halbleiterbauelementen (SMD; englisch: Surface Mounted Device) können sowohl Risse im Bauelementegehäuse (Package-Cracks) als auch elektrische Fehler entstehen, wenn die Wärmebeanspruchung, die beim Lötprozess auftritt, ein Ansteigen des Wasserdampfdrucks der während der Lagerung im SMD absorbierten Feuchte verursacht. Dieser Teil von IEC 60749 enthält ein Verfahren zur Bewertung der Lötwärmebeständigkeit von Halbleiterbauelementen, die als kunststoffverkappte SMD montiert wurden. Dieses Prüfverfahren ist zerstörend. Es gibt keine Einschränkungen im Anwendungsbereich dieses Dokuments. Gegenüber DIN EN 60749-20:2010-04 wurden folgende Änderungen vorgenommen: a) Einbindung einer Technischen Korrektur in IEC 60749-20:2008 (zweite Ausgabe); b) Einfügung eines neuen Abschnitts 3; c) Einfügung erläuternder Anmerkungen.
Dieses Dokument ersetzt DIN EN 60749-20:2010-04 .
Gegenüber DIN EN 60749-20:2010-04 wurden folgende Änderungen vorgenommen: a) Einbindung einer Technischen Korrektur in IEC 60749‑20:2008 (zweite Ausgabe); b) Einfügung eines neuen Abschnitts 3; c) Einfügung erläuternder Anmerkungen.