Liebe Kundinnen, liebe Kunden,
wir verabschieden uns in die Feiertage und sind ab dem 2. Januar 2025 wieder persönlich für Sie da.
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Norm [ZURÜCKGEZOGEN]
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Zusätzlich zum Anwendungsbereich von DIN EN 61326-1 (VDE 0843-20-1):2013 legt dieser Teil der Normenreihe DIN EN 61326 (VDE 0843-20) für Geräte mit Prüf- und Messstromkreisen, die nach Angaben des Herstellers aus Betriebs- oder Funktionsgründen innerhalb und/oder außerhalb des Gerätes elektromagnetisch nicht geschützt sind, weitere detaillierte Anforderungen an die Prüfanordnung, Betriebsbedingungen und Leistungsmerkmale (Bewertungskriterien) fest. Der Hersteller legt die Umgebung fest, in der der Gebrauch des Gerätes beabsichtigt ist und wählt die entsprechenden Prüfschärfen, die in DIN EN 61326-1 (VDE 0843-20-1):2013 festgelegt sind. Beispiele für solche Geräte sind Oszilloskope, Logikanalysatoren, Spektrumanalysatoren, Netzwerkanalysatoren, analoge Geräte, digitale Vielfachmessgeräte (DMM) und Leiterplattenprüfsysteme. Zuständig ist das DKE/UK 921.3 "Elektromagnetische Verträglichkeit in der Leittechnik" der DKE Deutsche Kommission Elektrotechnik Elektronik Informationstechnik im DIN und VDE.
Dieses Dokument ersetzt DIN EN 61326-2-1:2006-10; VDE 0843-20-2-1:2006-10 .
Dokument wurde ersetzt durch DIN EN IEC 61326-2-1:2022-11; VDE 0843-20-2-1:2022-11 .
Gegenüber DIN EN 61326-2-1 (VDE 0843-20-2-1):2006-10 wurden folgende Änderungen vorgenommen: a) Überarbeitung in Bezug auf DIN EN 61326-1 (VDE 0843-20-1):2013.