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Norm [ZURÜCKGEZOGEN]

DIN EN 60749-29:2004-07

Halbleiterbauelemente - Mechanische und klimatische Prüfverfahren - Teil 29: Latch-up-Prüfung (IEC 60749-29:2003); Deutsche Fassung EN 60749-29:2003 + Corrigendum:2004

Englischer Titel
Semiconductor devices - Mechanical and climatic test methods - Part 29: Latch-up test (IEC 60749-29:2003); German version EN 60749-29:2003 + Corrigendum:2004
Ausgabedatum
2004-07
Originalsprachen
Deutsch
Seiten
22

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ab 92,62 EUR exkl. MwSt.

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Ausgabedatum
2004-07
Originalsprachen
Deutsch
Seiten
22

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