Liebe Kundinnen, liebe Kunden,

wir verabschieden uns in die Feiertage und sind ab dem 2. Januar 2025 wieder persönlich für Sie da.

Bitte beachten Sie, dass neue Registrierungen und manuell zu bearbeitende Anliegen erst ab diesem Zeitpunkt bearbeitet werden. 

Bestellungen und Downloads können Sie selbstverständlich jederzeit online durchführen, und unsere FAQ bieten Ihnen viele hilfreiche Informationen.

Wir wünschen Ihnen schöne Feiertage, eine besinnliche Zeit und ein gesundes Neues Jahr! 

Ihre DIN Media GmbH

Wir sind telefonisch für Sie erreichbar!

Montag bis Freitag von 08:00 bis 15:00 Uhr

DIN Media Kundenservice
Telefon +49 30 58885700-70

Norm [AKTUELL]

DIN EN 60749-19:2011-01

Halbleiterbauelemente - Mechanische und klimatische Prüfverfahren - Teil 19: Prüfung der Chip-Bondfestigkeit (IEC 60749-19:2003 + A1:2010); Deutsche Fassung EN 60749-19:2003 + A1:2010

Englischer Titel
Semiconductor devices - Mechanical and climatic test methods - Part 19: Die shear strength (IEC 60749-19:2003 + A1:2010); German version EN 60749-19:2003 + A1:2010
Ausgabedatum
2011-01
Originalsprachen
Deutsch
Seiten
8
Hinweis
Dieses Dokument wird vom Herausgeber der ersatzlos zurückgezogenen DIN 41881-2:1978-06 empfohlen.

ab 56,60 EUR inkl. MwSt.

ab 52,90 EUR exkl. MwSt.

Format- und Sprachoptionen

PDF-Download
  • 56,60 EUR

Versand (3-5 Werktage)
  • 68,30 EUR

Mit dem Normenticker beobachten

Diese Option ist erst nach dem Login möglich.
Einfach Abo: Jetzt Zeit und Geld sparen!

Dieses Dokument können Sie auch abonnieren – zusammen mit anderen wichtigen Normen Ihrer Branche. Das macht die Arbeit leichter und rechnet sich schon nach kurzer Zeit.

Sparschwein_data
Abo Vorteile
Sparschwein Vorteil 1_data

Wichtige Normen Ihrer Branche, regelmäßig aktualisiert

Sparschwein Vorteil 2_data

Viel günstiger als im Einzelkauf

Sparschwein Vorteil 3_data

Praktische Funktionen: Filter, Versionsvergleich und mehr

Ausgabedatum
2011-01
Originalsprachen
Deutsch
Seiten
8
Hinweis
Dieses Dokument wird vom Herausgeber der ersatzlos zurückgezogenen DIN 41881-2:1978-06 empfohlen.
DOI
https://dx.doi.org/10.31030/1732791

Schnelle Zustellung per Download oder Versand

Sicherer Kauf mit Kreditkarte oder auf Rechnung

Jederzeit verschlüsselte Datenübertragung

Einführungsbeitrag

Dieser Teil der DIN EN 60749 dient der Bewertung der Integrität der Werkstoffe sowie der Prozess-Schritte, die angewendet werden, um Halbleiter-Chips auf Gehäusesockel (Header) oder andere Substrate (Trägerstreifen) zu befestigen. Im Allgemeinen ist dieses Prüfverfahren nur bei Hohlraum-Bauelementen und als Prozess-Monitor anwendbar. Es ist nicht anwendbar bei Chipflächen >10 mm2. Ebenso ist es nicht anwendbar bei der Flip-Chip-Technologie oder flexiblen Substraten. Gegenüber DIN EN 60749-19:2003-10 wurde im Abschnitt 1 entsprechend EN 60749-19/A1:2010-09 eine zweite Anmerkung eingefügt, welche die unterschiedliche Anwendung bei hohlraumlosen Gehäusen und Gehäusen mit Hohlraum klarstellt. Zuständig ist das K 631 "Halbleiterbauelemente" der DKE Deutsche Kommission Elektrotechnik Elektronik Informationstechnik im DIN und VDE.

ICS
31.080.01
DOI
https://dx.doi.org/10.31030/1732791
Ersatzvermerk

Dieses Dokument ersetzt DIN EN 60749-19:2003-10 .

Änderungsvermerk

Gegenüber DIN EN 60749-19:2003-10 wurden folgende Änderungen vorgenommen: a) im Anwendungsbereich wurde entsprechend EN 60749-19/A1:2010-09 eine zweite Anmerkung (Abschnitt 1, Anmerkung 2) eingefügt, welche die unterschiedliche Anwendung bei hohlraumlosen Gehäusen und Gehäusen mit Hohlraum klarstellt; b) Verweis in Abschnitt 7, Punkt a) der Deutschen Fassung der EN korrigiert.

Normen mitgestalten

Lade Empfehlungen...
Lade Empfehlungen...