DIN EN 15991:2011-04

Diese Norm legt ein Verfahren zur Bestimmung der Gehalte der Spurenelemente Al, Ca, Cr, Cu, Fe, Mg, Ni, Ti, V und Zr in pulver- und kornförmigem Siliciumcarbid fest. Das festgelegte Prüfverfahren gilt in Abhängigkeit von Element, Wellenlänge, Plasmabedingungen und Einwaage für Massenanteile der vorgenannten angeführten Spurenverunreinigungen von etwa 0,1 mg/kg bis etwa 1 000 mg/kg, nach Prüfung auch von 0,001 mg/kg bis etwa 5 000 mg/kg. Das Probenmaterial wird in einem Graphitschiffchen im Graphit-Rohrofen des ETV-Systems im Argon-Trägergasstrom verdampft. Die die Elementspuren enthaltenden Verdampfungsprodukte werden in Form eines trockenen Aerosols in das Plasma der ICP-Fackel transportiert und dort zur Emission von optischer Strahlung angeregt. In einem simultanen Emissionsspektrometer wird die optische Strahlung spektral zerlegt. Mit geeigneten Detektoren werden die Intensitäten geeigneter Spektrallinien oder Untergrundmesspunkte gemessen. Durch Vergleich der Intensitäten der elementspezifischen Spektrallinien der Probe mit Kalibrierproben bekannter Zusammensetzung werden die Massenanteile der Elemente in der Probe ermittelt.
Die Europäische Norm wurde vom CEN/TC 187 "Feuerfeste Erzeugnisse und Werkstoffe", dessen Sekretariat vom BSI (Vereinigtes Königreich) gehalten wird, erarbeitet. Das zuständige deutsche Gremium ist der Arbeitsausschuss NA 062-02-64 AA "Chemische Analyse von nichtoxidischen keramischen Roh- und Werkstoffen" im NMP.