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Norm-Entwurf

OEVE/OENORM EN 62047-27:2015-12-15 - Entwurf

Englischer Titel
Semiconductor devices - Micro-electromechanical devices - Part 27: Bond strength test for glass frit bonded structures using micro-chevron-tests (MCT) (IEC 47F/230/CDV) (english version)
Ausgabedatum
2015-12-15
Originalsprachen
Englisch
Seiten
18

ab 23,95 EUR inkl. MwSt.

ab 22,38 EUR exkl. MwSt.

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Ausgabedatum
2015-12-15
Originalsprachen
Englisch
Seiten
18

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