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Vornorm

ISO/TS 24597:2011-06

Mikrobereichsanalyse - Rasterelektronenmikroskopie - Verfahren zur Ermittlung der Bildschärfe

Englischer Titel
Microbeam analysis - Scanning electron microscopy - Methods of evaluating image sharpness
Ausgabedatum
2011-06
Originalsprachen
Englisch
Seiten
87

ab 239,00 EUR inkl. MwSt.

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2011-06
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ICS
37.020

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