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Vornorm [ZURÜCKGEZOGEN]
DIN CEN/TS 1071-10:2004-10
Hochleistungskeramik - Verfahren zur Prüfung keramischer Schichten - Teil 10: Bestimmung der Schichtdicke mittels Querschliff; Deutsche Fassung CEN/TS 1071-10:2004
- Englischer Titel
- Advanced technical ceramics - Methods of test for ceramic coatings - Part 10: Determination of coating thickness by cross sectioning; German version CEN/TS 1071-10:2004
- Ausgabedatum
- 2004-10
- Originalsprachen
- Deutsch
- Seiten
- 15
- Verfahren
- Vornorm
- Ausgabedatum
- 2004-10
- Originalsprachen
- Deutsch
- Seiten
- 15
- Verfahren
- Vornorm
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Die Europäische Technische Spezifikation (TS) wurde von der Arbeitsgruppe 5 "Prüfung von keramischen Beschichtungen" des CEN/TC 184 "Hochleistungskeramik" (Sekretariat: BSI, Großbritannien) erstellt.
In der Technischen Spezifikation ist ein Messverfahren für die Schichtdicke keramischer Beschichtungen festgelegt, bei dem ein metallographisch angefertigter Querschliff der Beschichtung mit einem kalibrierten Licht- oder Rasterelektronenmikroskop untersucht wird. Es ist EN ISO 9220 angelehnt, jedoch wurden alle erforderlichen Anpassungen und Aktualisierungen vorgenommen, um keramischen Beschichtungen und der derzeitig besten Praxis zu entsprechen.
Dokument wurde ersetzt durch DIN EN 1071-10:2009-10 .