VDI/VDE 2180 Blatt 3:2019-09

Diese Richtlinie beschreibt aufbauend auf VDI/VDE 2180 Blatt 1 und Blatt 2 den Nachweis eines vorgegebenen Sicherheitsintegritätslevels für eine geplante oder bereits vorhandene technische Realisierung einer PLT-Sicherheitsfunktion. Dabei werden sowohl die strukturellen Anforderungen (Nachweis der erforderlichen Hardwarefehlertoleranz) als auch die Berechnung von Ausfallwahrscheinlichkeiten von PLT-Sicherheitsfunktionen beschrieben. In diesem Zusammenhang wird ausführlich auch auf die Prüfung mit unterschiedlichen Prüfintervallen und Prüftiefen und deren Auswirkung auf die Ausfallwahrscheinlichkeiten eingegangen.

Bewerten des Sicherheitsintegritätslevels (SIL) von PLT-Sicherheitseinrichtungen mittels verschiedener Prüfkonzepte

Die Richtlinienreihe VDI/VDE 2180 wurde grundlegend überarbeitet und neu strukturiert. Aus der ehemals sechs Teile umfassenden Reihe wurden drei Blätter, die sich mit Einführung, Begriffen und Konzeption (Blatt 1), Planung, Errichtung und Betrieb von PLT-Sicherheitseinrichtungen (Blatt 2) und dem Nachweis der Ausfallwahrscheinlichkeit im Anforderungsfall – PFD (Blatt 3) befassen. Das hier vorliegende Blatt 3 baut auf Blatt 1 und 2 der Richtlinienreihe auf und ist in Verbindung mit diesen anzuwenden. Kernthema des Blattes ist die PFD, deren allgemeine Voraussetzungen und Grundlagen hier vorgestellt werden, inklusive Näherungsformeln zur PFD-Berechnung für Sensor-/Aktorgruppen und weiteren Möglichkeiten der Berechnung und Prüfkonzepten. Teil der VDI/VDE 2180 Blatt 3 ist auch ein Formelsatz zu gestaffeltem Prüfkonzept, zudem finden sich in dieser Richtlinie Angaben zur allgemeinen Vorgehensweise beim Sicherstellen und Bewerten der Sicherheitsintegrität.

Anwendungsbereich

Anwendungsbereich der VDI-/VDE-Richtlinie 2180 Blatt 3 ist der Nachweis eines vorgegebenen Sicherheitsintegritätslevels (SIL) für eine technische Realisierung einer PLT-Sicherheitsfunktion. Bei der PLT-Sicherheitsfunktion kann es sich um eine bereits existierende oder noch in Planung befindliche Anlage handeln.

VDI/VDE 2180 Blatt 3 bezieht sich auf die strukturellen Anforderungen wie den Nachweis der Fehlertoleranz von Hardware, aber auch auf die Berechnung von Ausfallwahrscheinlichkeiten.

In den Anwendungsbereich der Richtlinie fällt auch die Prüfung von PLT-Sicherheitsfunktionen mit verschiedenen Intervallen und Tiefen der Prüfung, und die Effekte auf die Ausfallwahrscheinlichkeit.

Aus dem Inhalt

• Anwendungsbereich
• Normative Verweise
• Begriffe
• Formelzeichen
• Allgemeine Vorgehensweise beim Sicherstellen/Bewerten der Sicherheitsintegrität
• Strukturelle Eignung – Anforderungen an die Hardwaretoleranz
• Sicherheitsbezogene Ausfallwahrscheinlichkeit im Anforderungsfall PFD
• Bereitstellung von Zuverlässigkeitskenndaten für Geräte
• Hardwaresicherheitsintegrität typischer Strukturen
• Anhang: Formelsatz zu gestaffeltem Prüfkonzept mit diversitärer Instrumentierung

25.040.40, 35.240.50

Dieses Dokument ersetzt VDI/VDE 2180 Blatt 4:2010-07 .